قابلیت اطمینان در برابر خطا در آرایه های درگاه قابل برنامه ریزی فیلد
- عنوان انگلیسی مقاله: Fault tolerance and reliability in field programmable gate arrays
- عنوان فارسی مقاله: قابلیت اطمینان و تحمل پذیری در برابر خطا در آرایه های درگاه قابل برنامه ریزی فیلد
- دسته: فناوری اطلاعات - کامپیوتر
- فرمت فایل ترجمه شده: WORD (قابل ویرایش)
- تعداد صفحات فایل ترجمه شده: 30
- دانلود رایگان نسخه انگلیسی
- دانلود رایگان بخشی از ترجمه
چکیده
کاهش قابلیت اطمینان در سطح دستگاه و افزایش تنوع در پروسه های within-die را می توان از مباحث بسیار مهم برای آرایه های درگاه با قابلیت برنامه ریزی-فیلد(FPGA) دانست که منجر به توسعه پویای خطاها در طول چرخه عمر مدار ادغام یافته می شود. خوشبختانه، FPGA ها توانایی پیکربندی مجدد در فیلد را در زمان اجرا دارند و از ان رو فرصت هایی را به منظور غلبه بر چنین خطاهایی فراهم می سازند. این طالعه یک بررسی جامع بر روی متد های تشخیص خطا و شِماهای تحمل پذیری در برابر خطا را برای FPGA ها و تنزل دستگاه ها و با هدف ایجاد یک مبنای قوی برای پژوهش های آینده در این حوزه ارائه میدهد. همه متد ها و شِماها از نظر کمی مقایسه شده اند و بعضی از آنها نیز مورد تأکید قرار گرفته اند.
واژگان کلیدی
- قابلیت اطمینان
- تحمل پذیری در برابر خطا
- درگاه قابل برنامه ریزی فیلد
Abstract
Reduced device-level reliability and increased within-die process variability will become serious issues for future field-programmable gate arrays (FPGAs), and will result in faults developing dynamically during the lifetime of the integrated circuit. Fortunately, FPGAs have the ability to reconfigure in the field and at runtime, thus providing opportunities to overcome such degradation-induced faults. This study provides a comprehensive survey of fault detection methods and fault-tolerance schemes specifically for FPGAs and in the context of device degradation, with the goal of laying a strong foundation for future research in this field. All methods and schemes are quantitatively compared and some particularly promising approaches are highlighted.
اطلاعات فایلی که دانلود می شود
- فرمت: zip
- حجم: 1.15 مگابایت
- شماره ثبت: 411