ترجمه مقاله نمونه برداری از سیستم های پرتوافشانی جداسازی شده

چکیده ترجمه

پیشرفت های فناوری آرایه گیت قابل برنامه نویسی میدان FPGA موجب می شود که این فناوری، برترین اساس جهت نمونه برداری سریع العمل اولیه ای از سیستم های دیجیتال مجتمع به شمار رود. علاوه بر این در حالی که فناوری عقب می ماند، حفظ سیستم های مبتنی بر پردازنده جهت سبک کردن تاثیرات مضر رویداد های غیر منتظره استنتاج شده از تشعشع در حال مهم تلقی شدن است. در این متن، همکاری عمده این کار، یک خط مشی نمونه برداری سریع العمل اولیه جهت طراحی شراکتی سیستم های جاسازی شده قابل اطمینان با استفاده از FPGA است. این امر از طریق یک اساس سخت کردن پشتیبانی می شود که ترکیب روش های تحمل خطای فقط نرم افزار را با خط مشی های فقط سخت افزار با بیان چندین بررسی میان محدودیت های طراحی، قابلیت اطمینان و هزینه می پذیرد. به عنوان یک بررسی موردی، چندین سیستم جاسازی شده متحمل پرتو افشانی براساس یک نسخه مستقل از فناوری از پردازنده Picoblaze توسعه یافته است.

Abstract

Technological advances of Field Programmable Gate Array (FPGA) are making that this technology becomes the most preferred platform for the rapid prototyping of highly integrated digital systems. In addition, protection of processor-based systems to mitigate the harmful effects of radiation-induced upset events is gaining importance while technology shrinks. In this context, the main contribution of this work is a novel rapid prototyping approach for the co-design of dependable embedded systems using FPGA. This is supported by a hardening platform that allows combining software-only fault-tolerance techniques with hardware-only approaches, representing several trade-offs among design constraints, reliability and cost. As case study, several radiation-tolerant embedded systems have been developed based on a technology-independent version of the Picoblaze processor.

مقدمه

در سال های اخیر، کوچک سازی تصاعدی اجزای الکترونیکی منجر به پیشرفت های مهمی در ریزپردازنده ها گردیده است. گرچه این حقیقت دارای مزایا و معایبی است. پرمعناترین مزیت، افزایش شگفت انگیز عملکرد ریزپردازنده ها بوده است. گرچه در حالی که فناوری عقب می ماند، سطح منبع ولتاژ و تفاوت های خش (پارازیت) کاهش می یابد که باعث می شود که دستگاه های الکترونیکی کمتر قابل اطمینان شوند و ریزپردازنده ها بیشتر مستعد پذیرش خطاهای زودگذر القاء شده به وسیله تشعشع گردند. این خطاهای متناوب، خسارت های غیر دائمی را دامن نمی زنند بلکه ممکن است منجر به اجرای برنامه نادرستی به وسیله تغییر فرستنده های سیگنال یا مقادیر ذخیره شده شوند.

  • فرمت: zip
  • حجم: 0.29 مگابایت
  • شماره ثبت: 411

خرید فایل

نظرات 0 + ارسال نظر
امکان ثبت نظر جدید برای این مطلب وجود ندارد.